X射线荧光光谱仪（XRF）
型号: Axios
位置: 西南科技大学
负责人:
设备描述
1．制样设备：样品粉碎机、半自动压样机、高频熔样机
2．IQ+无标样半定量分析系统
应用领域
广泛应用于基础科学研究，环境保护、农业、食品、钢铁及有色金属、建材、电子材料的研究及生产和能源等领域。
样品要求
1．固体粉末：干燥，成分均匀，粒度小于m（过425目），压片法制样需样品不少于，熔融法制样需样品不少于；
2．块体及金属样品：需加工出一平整、光滑、成分均匀且无污染的表面，可放入直径（测量面直径）的圆柱状样品杯中，厚度小于；
3．薄膜样品：可处理成直径约圆片；
4．液体样品：受辐照后不发生剧烈反应，不少于20mL；
5．若试样易燃、易爆、有毒，必须提示，以便采取相应的处理措施。
主要规格
1．高压发生器最大功率：2.4kw；陶瓷X射线光管，Rh靶；
2．测角仪：扫描方式θ/2θ方式；角度重现性优于±0.0001°；精度0.0025°；
3．探测器：闪烁探测器，8-104°（2θ），1500kcps max（＜1%）；流气探测器13-148°（2θ），3000kcps max（＜1%）；双多道分析器；
4．分光晶体：LiF200晶体、PE002晶体、PX-1晶体、Ge111晶体、LiF220晶体，可分析元素周期表F到U的80多种元素，含量范围ppm～100%；
5．68位全自动进样器；试样直径为32mm。